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JEOL推出新款X射线光电子能谱仪

JEOL已经完成了JPS 9030 X射线光电子能谱仪的开发,并于2015年4月10日开始销售。

  近年来,对于高质量、快速、操作简单的表面分析仪器,以及对任何水平的用户和任何种类的样品都可实现高重复性分析的表面分析仪器的需求越来越多。JPS-9030采用了新设计的用户操作界面,能够进一步提升可操作性,并采用了巧妙的、新的现代化的时尚外观设计。

  JPS-9030采用新开发的Kaufman型蚀刻离子源可提供的蚀刻速率为1纳米/分钟至100纳米/分钟(SiO2),并允许宽范围的设置。它能够适用于任何应用的剖面分析,从要求精度的分析到需要速度的分析。

  JPS-9030利用新开发的软件使得操作更加简便。SpecSurf Ver. 2.0现在采用了带状式的图形用户界面,在一个用户友好环境中,所有操作都只需动动鼠标就能完成。利用日本电子公司自有的自动定性分析功能,对多个采样点能够依次进行定性,定量和化学态分析。

  JPS-9030支持如角分辨XPS(ARXPS)和全反射XPS(TRXPS)技术,并且能够对表层1nm深度进行超灵敏分析(标准测量方法为6nm以上)。

  JPS-9030的销售量目标为每年20台。